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【2h】

REscope: High-dimensional Statistical Circuit Simulation towards Full Failure Region Coverage

机译：REscope：面向全失效区域覆盖的高维统计电路仿真

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作者
Wei Wu; Wenyao Xu; Rahul Krishnan; Yen-lung Chen; Lei He;
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年度 2016
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1. Efficient Statistical Model Checking of Hardware Circuits With Multiple Failure Regions [J] . Kumar J.A., Ahmadyan S.N., Vasudevan S. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 2014,第6期

机译：具有多个故障区域的硬件电路的有效统计模型检查
2. Fast Statistical Analysis of Rare Circuit Failure Events via Scaled-Sigma Sampling for High-Dimensional Variation Space [J] . Sun Shupeng, Li Xin, Liu Hongzhou, Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on . 2015,第7期

机译：通过标度Sigma采样对高维变化空间进行稀有电路故障事件的快速统计分析
3. Quantum-statistical simulations for quantum circuits [J] . Fischer K., Matuttis HG., Ito N., International Journal of Modern Physics, C. Physics and Computers . 2002,第7期

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5. Statistical mechanics simulations of surface coverage and phospholipid bilayers. [D] . Meineke, Matthew A. 2004

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7. Fast Statistical Analysis of Rare Circuit Failure Events via Scaled- Sigma Sampling for High-Dimensional Variation Space [O] . Shupeng Sun, Xin Li, Hongzhou Liu, 2014

机译：基于尺度 - 西格玛采样的高维变分空间稀有电路故障事件的快速统计分析
8. Latent Failures and Coverage in Fault-Tolerant Systems. A VLSI CMOS Circuit Design Technique to Aid Test Generation [R] . Amer, H. H., McCluskey, E. J. 1986

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